本发明公开了一种光谱测量装置，属于光学测量技术领域。本发明的光谱测量装置，包括光学准直装置、光散射器件、阵列式探测芯片，以及与所述阵列式探测芯片连接的数据采集与分析系统；经由光学准直装置准直后的入射光经由光散射器件形成散射光，并被阵列式探测芯片接收；所述光散射器件可令不同频率的入射光形成不同的散射光强角分布，且相同频率的入射光在光散射器件的不同部位所产生的散射光强分布也不同。本发明还公开了一种采用上述装置的光谱测量方法。相比现有技术，本发明具有体积更小、结构复杂度及制作成本更低的优点，并提出了一种新的光谱测量技术途径。

本发明公开了一种光谱测量装置，属于光学测量技术领域。本发明的光谱测量装置，包括光学准直装置、光散射器件、阵列式探测芯片，以及与所述阵列式探测芯片连接的数据采集与分析系统；经由光学准直装置准直后的入射光经由光散射器件形成散射光，并被阵列式探测芯片接收；所述光散射器件可令不同频率的入射光形成不同的散射光强角分布，且相同频率的入射光在光散射器件的不同部位所产生的散射光强分布也不同。本发明还公开了一种采用上述装置的光谱测量方法。相比现有技术，本发明具有体积更小、结构复杂度及制作成本更低的优点，并提出了一种新的光谱测量技术途径。