一种微波光子矢量网络分析装置及微波器件散射参数的测量方法,装置包括微波源,沿该微波源的信号输出方向依次是信号加载模块、光采样模块和信号处理模块,所述的信号处理模块的输出端分别与所述的微波源和光采样模块的控制端相连;所述的信号加载模块的两个测试端口与待测器件的两端相连。本发明能对微波信号直接采样与变频,抛弃了传统网络分析仪中的超外差结构和/或直接变频结构,在提高测量频率范围、避免镜像干扰等问题的同时,简化了系统的结构,降低了系统的复杂度、成本和功耗等。
一种微波光子矢量网络分析装置及微波器件散射参数的测量方法,装置包括微波源,沿该微波源的信号输出方向依次是信号加载模块、光采样模块和信号处理模块,所述的信号处理模块的输出端分别与所述的微波源和光采样模块的控制端相连;所述的信号加载模块的两个测试端口与待测器件的两端相连。本发明能对微波信号直接采样与变频,抛弃了传统网络分析仪中的超外差结构和/或直接变频结构,在提高测量频率范围、避免镜像干扰等问题的同时,简化了系统的结构,降低了系统的复杂度、成本和功耗等。
商品类型 | 专利 | 申请号 | CN201810407639.X | IPC分类号 | |
专利类型 | 发明 | 法律状态 | 有权 | 技术领域 | |
交易方式 | 技术转让 | 专利状态 | 已授权 | 专利权人 | |